国际简称:J ELECTRON IMAGING 参考译名:电子影像杂志
主要研究方向:工程技术-成像科学与照相技术 非预警期刊 审稿周期: 约4.0个月
《电子影像杂志》(Journal Of Electronic Imaging)是一本由SPIE出版的以工程技术-成像科学与照相技术为研究特色的国际期刊,发表该领域相关的原创研究文章、评论文章和综述文章,及时报道该领域相关理论、实践和应用学科的最新发现,旨在促进该学科领域科学信息的快速交流。该期刊是一本未开放期刊,近三年没有被列入预警名单。
The Journal of Electronic Imaging publishes peer-reviewed papers in all technology areas that make up the field of electronic imaging and are normally considered in the design, engineering, and applications of electronic imaging systems.
CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 指数 | ||||||||||||||||
1.7 | 0.264 | 0.357 |
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名词解释:CiteScore 是衡量期刊所发表文献的平均受引用次数,是在 Scopus 中衡量期刊影响力的另一个指标。当年CiteScore 的计算依据是期刊最近4年(含计算年度)的被引次数除以该期刊近四年发表的文献数。例如,2022年的 CiteScore 计算方法为:2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的对2019-2022年发表的文件的引用数量÷2019-2022年发布的文献数量 注:文献类型包括:文章、评论、会议论文、书籍章节和数据论文。
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 | ||
否 | 否 | 计算机科学 | 4区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 | 4区 4区 4区 |
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 | ||
否 | 否 | 计算机科学 | 4区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 | 4区 4区 4区 |
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 | ||
否 | 否 | 计算机科学 | 4区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 | 4区 4区 4区 |
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 | ||
否 | 否 | 工程技术 | 4区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 | 4区 4区 4区 |
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 | ||
否 | 否 | 计算机科学 | 4区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 | 4区 4区 4区 |
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 | ||
否 | 否 | 计算机科学 | 4区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 | 4区 4区 4区 |
按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 285 / 352 |
19.2% |
学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 31 / 36 |
15.3% |
学科:OPTICS | SCIE | Q4 | 99 / 119 |
17.2% |
按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 289 / 354 |
18.5% |
学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 31 / 36 |
15.28% |
学科:OPTICS | SCIE | Q4 | 104 / 120 |
13.75% |
Author: Zou, Xuyan; He, Hanwu; Li, Chaorong
Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.013010
Author: Zheng, Xiangtian
Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.011203
Author: Zheng, Jing; Cui, Ziguan; Gan, Zongliang; Tang, Guijin; Liu, Feng
Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.013026
Author: Zhang, Zelin; Su, Wenzhe; Guo, Yuyao; Wang, Lei; Xia, Xuhui
Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.013019
Author: Zhang, Yunzuo; Guo, Kaina; Zheng, Tingting
Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.013013
Author: Zhang, Xiaoyu
Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.011215
Author: Zhang, Xiangxiang; Wang, Chunyuan; Jin, Jie; Huang, Li
Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.013018
Author: Zhang, Lina; Wan, Yi
Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.013024
Engineering Applications Of Artificial Intelligence
中科院 2区 JCR Q1
Icga Journal
中科院 4区 JCR Q4
Computer Vision And Image Understanding
中科院 3区 JCR Q1
Egyptian Informatics Journal
中科院 3区 JCR Q1
Neurocomputing
中科院 2区 JCR Q1
Neural Networks
中科院 1区 JCR Q1
Journal Of Grid Computing
中科院 2区 JCR Q1
Digital Communications And Networks
中科院 2区 JCR Q1
若用户需要出版服务,请联系出版商:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。