Radiophysics And Quantum Electronics SCIE

国际简称：RADIOPHYS QUANT EL+ 参考译名：放射物理学和量子电子学

主要研究方向：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC-PHYSICS, APPLIED 非预警期刊审稿周期：较慢,6-12周

《放射物理学和量子电子学》(Radiophysics And Quantum Electronics)是一本由Springer US出版的以ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC-PHYSICS, APPLIED为研究特色的国际期刊，发表该领域相关的原创研究文章、评论文章和综述文章，及时报道该领域相关理论、实践和应用学科的最新发现，旨在促进该学科领域科学信息的快速交流。该期刊是一本未开放期刊，近三年没有被列入预警名单。

4区中科院分区
Q4 JCR分区
83 年发文量
0.8 IF影响因子
未开放 是否OA
22 H-index
1965 创刊年份
Monthly 出版周期
English 出版语言

Radiophysics and Quantum Electronics contains the most recent and best Russian research on topics such as:

Radio astronomy;

Plasma astrophysics;

Ionospheric, atmospheric and oceanic physics;

Radiowave propagation;

Quantum radiophysics;

Pphysics of oscillations and waves;

Physics of plasmas;

Statistical radiophysics;

Electrodynamics;

Vacuum and plasma electronics;

Acoustics;

Solid-state electronics.

Radiophysics and Quantum Electronics is a translation of the Russian journal Izvestiya VUZ. Radiofizika, published by the Radiophysical Research Institute and N.I. Lobachevsky State University at Nizhnii Novgorod, Russia. The Russian volume-year is published in English beginning in April.

All articles are peer-reviewed.

[ 查看全部 ]

投稿咨询加急咨询

投稿热线：400-888-7501

Radiophysics And Quantum Electronics期刊信息

ISSN：0033-8443
出版语言：English
是否OA：未开放
E-ISSN：1573-9120
出版地区：RUSSIA
是否预警：否
出版商：Springer US
出版周期：Monthly
创刊时间：1965
开源占比：0
Gold OA文章占比：0.00%
OA被引用占比：0
出版国人文章占比：0.01
出版撤稿占比：0
研究类文章占比：100.00%

Radiophysics And Quantum Electronics CiteScore评价数据（2024年最新版）

CiteScore

SJR

SNIP

CiteScore 指数

1.1

0.218

0.361

学科类别	分区	排名	百分位
大类：Physics and Astronomy 小类：Nuclear and High Energy Physics	Q3	60 / 87	31%
大类：Physics and Astronomy 小类：Electrical and Electronic Engineering	Q4	627 / 797	21%
大类：Physics and Astronomy 小类：Astronomy and Astrophysics	Q4	72 / 90	20%
大类：Physics and Astronomy 小类：Electronic, Optical and Magnetic Materials	Q4	237 / 284	16%
大类：Physics and Astronomy 小类：Statistical and Nonlinear Physics	Q4	56 / 62	10%

名词解释：CiteScore 是衡量期刊所发表文献的平均受引用次数，是在 Scopus 中衡量期刊影响力的另一个指标。当年CiteScore 的计算依据是期刊最近4年（含计算年度）的被引次数除以该期刊近四年发表的文献数。例如，2022年的 CiteScore 计算方法为：2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的对2019-2022年发表的文件的引用数量÷2019-2022年发布的文献数量注：文献类型包括：文章、评论、会议论文、书籍章节和数据论文。

Radiophysics And Quantum Electronics中科院评价数据

中科院 2023年12月升级版

Top期刊	综述期刊	大类学科		小类学科
否	否	地球科学	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 PHYSICS, APPLIED 物理：应用 PHYSICS, FLUIDS & PLASMAS 物理：流体与等离子体	4区 4区 4区

中科院 2022年12月升级版

Top期刊	综述期刊	大类学科		小类学科
否	否	工程技术	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 PHYSICS, APPLIED 物理：应用 PHYSICS, FLUIDS & PLASMAS 物理：流体与等离子体	4区 4区 4区

中科院 2021年12月旧的升级版

Top期刊	综述期刊	大类学科		小类学科
否	否	工程技术	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 PHYSICS, APPLIED 物理：应用 PHYSICS, FLUIDS & PLASMAS 物理：流体与等离子体	4区 4区 4区

中科院 2021年12月基础版

Top期刊	综述期刊	大类学科		小类学科
否	否	工程技术	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 PHYSICS, APPLIED 物理：应用 PHYSICS, FLUIDS & PLASMAS 物理：流体与等离子体	4区 4区 4区

中科院 2021年12月升级版

Top期刊	综述期刊	大类学科		小类学科
否	否	工程技术	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 PHYSICS, APPLIED 物理：应用 PHYSICS, FLUIDS & PLASMAS 物理：流体与等离子体	4区 4区 4区

中科院 2020年12月旧的升级版

Top期刊	综述期刊	大类学科		小类学科
否	否	工程技术	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 PHYSICS, APPLIED 物理：应用 PHYSICS, FLUIDS & PLASMAS 物理：流体与等离子体	4区 4区 4区

Radiophysics And Quantum Electronics JCR评价数据（2023-2024年最新版）

按JIF指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q4	301 / 352	14.6%
学科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q4	165 / 179	8.1%
学科：PHYSICS, FLUIDS & PLASMAS	SCIE	Q4	37 / 40	8.8%

按JCI指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q4	307 / 354	13.42%
学科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q4	160 / 179	10.89%
学科：PHYSICS, FLUIDS & PLASMAS	SCIE	Q4	39 / 40	3.75%

Radiophysics And Quantum Electronics历年数据统计

影响因子

中科院分区

Radiophysics And Quantum Electronics中国学者发文选摘

1、Electronic Tuning of the Working Frequency of a Gyrotron with an Echelette Structure
Author: L. N. Agapov, S. D. Bogdanov, N. P. Venedictov, S. N. Vlasov, E. V. Koposova, V. I. Kurbatov, E.A. Soluyanova

Journal: Radiophysics and Quantum Electronics, 2013, Vol.56, 441-445, DOI:10.1007/s11141-013-9447-8