国际简称:SCANNING 参考译名:扫描
主要研究方向:工程技术-显微镜技术 预警期刊 审稿周期: 较慢,6-12周
《扫描》(Scanning)是一本由Hindawi Limited出版的以工程技术-显微镜技术为研究特色的国际期刊,发表该领域相关的原创研究文章、评论文章和综述文章,及时报道该领域相关理论、实践和应用学科的最新发现,旨在促进该学科领域科学信息的快速交流。该期刊是一本开放期刊。
Scanning provides an international and interdisciplinary medium for the rapid exchange of information among all scientists interested in scanning electron, scanning probe, and scanning optical microscopies. Areas of specific interest include all aspects of the instrumentation associated with scanning microscopies, correlative microscopy techniques, stereometry, stereology, analytic techniques, and novel applications of the microscopies.
CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 指数 | ||||||||||||
4.4 | 0.471 | 0.832 |
|
名词解释:CiteScore 是衡量期刊所发表文献的平均受引用次数,是在 Scopus 中衡量期刊影响力的另一个指标。当年CiteScore 的计算依据是期刊最近4年(含计算年度)的被引次数除以该期刊近四年发表的文献数。例如,2022年的 CiteScore 计算方法为:2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的对2019-2022年发表的文件的引用数量÷2019-2022年发布的文献数量 注:文献类型包括:文章、评论、会议论文、书籍章节和数据论文。
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 | ||
否 | 否 | 工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 MICROSCOPY 显微镜技术 | 4区 4区 |
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 | ||
否 | 否 | 工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 MICROSCOPY 显微镜技术 | 4区 4区 |
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 | ||
否 | 否 | 工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 MICROSCOPY 显微镜技术 | 4区 4区 |
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 | ||
否 | 否 | 工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 MICROSCOPY 显微镜技术 | 4区 4区 |
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 | ||
否 | 否 | 工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 MICROSCOPY 显微镜技术 | 4区 4区 |
按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
Author: Chen Y.
Journal: Scanning. 2016 Mar;38(2):113-20. doi: 10.1002/sca.21246. Epub 2015 Jul 21.
Author: Ho HS, Bigerelle M, Vincent R, Deltomb R.
Journal: Scanning. 2016 May;38(3):191-201. doi: 10.1002/sca.21254. Epub 2015 Aug 6.
Author: Yue X, Li Q, Wang H, Sun Y, Wang A, Zhang Q, Zhang C.
Journal: Scanning. 2016 Mar;38(2):172-6. doi: 10.1002/sca.21252. Epub 2015 Aug 20.
Author: Lu M, Ran Y, Dai Y, Lei S, Zhang C, Zhuang K, Hu W.
Journal: Scanning. 2016 Mar;38(2):128-32. doi: 10.1002/sca.21248. Epub 2015 Aug 24.
Author: Wang Q, Zheng J, Wang K, Gui K, Guo H, Zhuang S.
Journal: Scanning. 2016 May;38(3):234-9. doi: 10.1002/sca.21265. Epub 2015 Sep 2.
Author: Xu Y, Liao C, Chen J, Chen Y, Zhu X, Chen J.
Journal: Scanning. 2016 May;38(3):245-50. doi: 10.1002/sca.21267. Epub 2015 Sep 1.
Author: Chen J, Zhang LS, Feng ZH.
Journal: Scanning. 2016 May;38(3):184-90. doi: 10.1002/sca.21253. Epub 2015 Sep 14.
Author: Wang Y, Xu C, Jiang N, Zheng L, Zeng J, Qiu C, Yang H, Xie S.
Journal: Scanning. 2016 Jan 11. doi: 10.1002/sca.21300. [Epub ahead of print]
International Journal Of Hydrogen Energy
中科院 2区 JCR Q1
International Journal Of Thermal Sciences
中科院 2区 JCR Q1
Applied Thermal Engineering
中科院 2区 JCR Q1
Journal Of Nanoelectronics And Optoelectronics
中科院 4区 JCR Q4
Acta Geotechnica
中科院 1区 JCR Q1
Aiaa Journal
中科院 3区 JCR Q2
Ieee Transactions On Industrial Electronics
中科院 1区 JCR Q1
Urban Climate
中科院 2区 JCR Q1
若用户需要出版服务,请联系出版商:JOHN WILEY & SONS INC, 111 RIVER ST, HOBOKEN, USA, NJ, 07030。