Ieee Design & Test SCIE

国际简称：IEEE DES TEST 参考译名：IEEE设计与测试

主要研究方向：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 非预警期刊审稿周期：

《IEEE设计与测试》(Ieee Design & Test)是一本由IEEE Computer Society出版的以COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC为研究特色的国际期刊，发表该领域相关的原创研究文章、评论文章和综述文章，及时报道该领域相关理论、实践和应用学科的最新发现，旨在促进该学科领域科学信息的快速交流。该期刊是一本未开放期刊，近三年没有被列入预警名单。

4区中科院分区
Q3 JCR分区
59 年发文量
1.9 IF影响因子
未开放 是否OA
72 H-index
2013 创刊年份
6 issues/year 出版周期
English 出版语言

IEEE Design & Test offers original works describing the models, methods, and tools used to design and test microelectronic systems from devices and circuits to complete systems-on-chip and embedded software. The magazine focuses on current and near-future practice, and includes tutorials, how-to articles, and real-world case studies. The magazine seeks to bring to its readers not only important technology advances but also technology leaders, their perspectives through its columns, interviews, and roundtable discussions. Topics include semiconductor IC design, semiconductor intellectual property blocks, design, verification and test technology, design for manufacturing and yield, embedded software and systems, low-power and energy-efficient design, electronic design automation tools, practical technology, and standards.

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Ieee Design & Test期刊信息

ISSN：2168-2356
出版语言：English
是否OA：未开放
E-ISSN：2168-2364
出版地区：UNITED STATES
是否预警：否
出版商：IEEE Computer Society
出版周期：6 issues/year
创刊时间：2013
开源占比：0.0625
Gold OA文章占比：6.08%
OA被引用占比：0
出版国人文章占比：0
出版撤稿占比：0
研究类文章占比：100.00%

Ieee Design & Test CiteScore评价数据（2024年最新版）

CiteScore

SJR

SNIP

CiteScore 指数

3.8

0.489

0.757

学科类别	分区	排名	百分位
大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering	Q2	354 / 797	55%
大类：Engineering 小类：Hardware and Architecture	Q3	94 / 177	47%
大类：Engineering 小类：Software	Q3	230 / 407	43%

名词解释：CiteScore 是衡量期刊所发表文献的平均受引用次数，是在 Scopus 中衡量期刊影响力的另一个指标。当年CiteScore 的计算依据是期刊最近4年（含计算年度）的被引次数除以该期刊近四年发表的文献数。例如，2022年的 CiteScore 计算方法为：2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的对2019-2022年发表的文件的引用数量÷2019-2022年发布的文献数量注：文献类型包括：文章、评论、会议论文、书籍章节和数据论文。

Ieee Design & Test中科院评价数据

中科院 2023年12月升级版

Top期刊	综述期刊	大类学科		小类学科
否	否	工程技术	4区	COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	4区 4区

中科院 2022年12月升级版

Top期刊	综述期刊	大类学科		小类学科
否	否	工程技术	4区	COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	4区 4区

中科院 2021年12月旧的升级版

Top期刊	综述期刊	大类学科		小类学科
否	否	工程技术	3区	COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	4区 4区

中科院 2021年12月基础版

Top期刊	综述期刊	大类学科		小类学科
否	否	工程技术	4区	COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	4区 4区

中科院 2021年12月升级版

Top期刊	综述期刊	大类学科		小类学科
否	否	工程技术	3区	COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	4区 4区

中科院 2020年12月旧的升级版

Top期刊	综述期刊	大类学科		小类学科
否	否	工程技术	3区	COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	3区 3区

Ieee Design & Test JCR评价数据（2023-2024年最新版）

按JIF指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE	SCIE	Q3	42 / 59	29.7%
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q3	211 / 352	40.2%

按JCI指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE	SCIE	Q3	40 / 59	33.05%
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q3	217 / 354	38.84%

Ieee Design & Test历年数据统计

影响因子

中科院分区

Ieee Design & Test中国学者发文选摘

1、A DVFS Design and Simulation Framework Using Machine Learning Models
Author: Zhuo, Cheng; Gao, Di; Cao, Yuan; Shen, Tianhao; Zhang, Li; Zhou, Jinfang; Yin, Xunzhao

Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 1, pp. 52-61. DOI: 10.1109/MDAT.2021.3119279
2、Fully Microstrip Three-Port Circuit Bandpass NGD Design and Test
Author: Ravelo, Blaise; Douyere, Alexandre; Liu, Yang; Rahajandraibe, Wenceslas; Wan, Fayu; Chan, George; Guerin, Mathieu

Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 1, pp. 96-104. DOI: 10.1109/MDAT.2022.3164337
3、Machine Learning in Advanced IC Design: A Methodological Survey
Author: Chen, Tinghuan; Zhang, Grace Li; Yu, Bei; Li, Bing; Schlichtmann, Ulf

Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 1, pp. 17-33. DOI: 10.1109/MDAT.2022.3216799
4、Topology-Aided Multicorner Timing Predictor for Wide Voltage Design
Author: Cao, Peng; Yang, Tai; Wang, Kai; Bao, Wei; Yan, Hao

Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 1, pp. 62-69. DOI: 10.1109/MDAT.2021.3117745
5、Multiplication Circuit Architecture for Error- Tolerant CNN-Based Keywords Speech Recognition
Author: Liu, Bo; Cai, Hao; Zhang, Zilong; Ding, Xiaoling; Zhang, Renyuan; Gong, Yu; Wang, Zhen; Ge, Wei; Yang, Jun

Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 3, pp. 26-35. DOI: 10.1109/MDAT.2021.3135346
6、Dependable STT-MRAM With Emerging Approximation and Speculation Paradigms
Author: Cai, Hao; Hou, Yaoru; Zhang, Mengdi; Liu, Bo; Naviner, Lirida Alves de Barros

Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 3, pp. 17-25. DOI: 10.1109/MDAT.2021.3120330